测量BTA08 600C的可控硅，可以采用以下方法：直接测量法使用数字万用表或模拟万用表直接将可控硅的两个端口连接到表进行测试。测试参数包括电压、电流、电阻和功率等。注意高电压或高电流情况下的安全性。反向测量法将可控硅的主导端口连接到正向电压源，另一个端口连接到反向电压源。测量可控硅的正向和反向电压